|
● 高速功能测试
功能测试速率 最大20MHz
系统定时精度 ±2nS
定时分辨率 速率 10nS 时钟 1nS
定时灵活性 驱动图形格式 8种
I/O 图形格式 3种
速率、时钟定时分级 16级
测试图形容量 128K×4bit/Pin (可扩至1M×4bit/Pin)
图形微指令 13种
存储器测试能力 16M×8bit 测试能力
10MHz 测试速率
N、N2 、N3/2 测试图形产生算法
支持ROM、IC卡等测试
实时失效数据记录
● 数字测试台 高压/高速台
高压/高速三态管脚驱动器
-2V … +18V输出逻辑摆幅
2nS/V 上升/下降时间
高压/高速双限电平比较器
通用数字IC测试性能卡
● 直流测量 施加/测量范围 ±32V, ±1A
施加/测量精度 ±0.1%
施加分辨率 12位
测量分辨率 16位
1000次/秒 直流参数测试
全程 Kelvin/等电位连接
量程切换 自动
保护 程控的电压/电流箝位保护
● GPIB接口 可外接各种程控仪表协同测试
● 系统软件 Win98 中文版操作系统
面向被测器件的填表式编程平台
基于可视化高级语言编程环境,可实现各种分析功能
基于文本文件的测试代码交换平台,支持EDA产生的测试向量的自动转换,
支持不同型号的测试设备测试向量的自动转换
独特的测试向量自动学习功能
|