产品分类
SP-3160大规模混合信号集成电路测试系统
SP-3160大规模数字集成电路测试系统
SP3160IV IVLSI SOC测试系统概述
SP3160V VLSI SOC测试系统
SP-3161CCD器件测试系统
SP-3166数字集成电路测试系统
SP-3196A模拟集成电路测试系统
SP-3196B模拟集成电路测试系统
SP-3190功率器件测试系统
SP-3191电源模块测试系统
SP-3192继电器测试系统
数模混合集成电路测试系统主要用于测试各类微处理器(CPU,MPU)、数字信号处理器(DSP)、可编程门阵列(FPGA)、复杂数字接口电路、74/54系列、ECL系列器件的直流参数,动态功能参数和交流参数(定时参数)。也可测试运算放大器、比较器、AD/DA、通讯器件等模拟及混合集成电路。
被测器件的最大管脚数可达512个,最高测试速率可达50Mhz。
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北京科力测试技术有限责任公司
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