产品分类
SP-3160大规模混合信号集成电路测试系统
SP-3160大规模数字集成电路测试系统
SP3160IV IVLSI SOC测试系统概述
SP3160V VLSI SOC测试系统
SP-3161CCD器件测试系统
SP-3166数字集成电路测试系统
SP-3196A模拟集成电路测试系统
SP-3196B模拟集成电路测试系统
SP-3190功率器件测试系统
SP-3191电源模块测试系统
SP-3192继电器测试系统
科力公司在2004年推向全国市场的SP3160IV IVLSI SOC测试系统。它是科力公司在测试领域多年积累的丰富经验的结晶,在一块电路板上集成了有32个数字通道的数字测试子系统,借助于这一在测试界很高的集成度水平,科力公司实现了强大的成本优势而丝毫没有牺牲系统性能......
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数模混合集成电路测试系统主要用于测试各类微处理器(CPU,MPU)、数字信号处理器(DSP)、可编程门阵列(FPGA)、复杂数字接口电路、74/54系列、ECL系列器件的直流参数,动态功能参数和交流参数(定时参数)。也可测试运算放大器、比较器、AD/DA、通讯器件等模拟及混合集成电路......
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● 高速功能测试
功能测试速率 最大50MHz
系统定时精度 ±2nS ......
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1.系统
系统类型 通用数字超大规模集成电路测试系统
系统主控计算机 Intel Pentium 系列PC机 ......
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北京科力测试技术有限责任公司
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