数字集成电路测试系统主要用于测试各类微处理器(CPU,MPU)、数字信号处理器(DSP)、可编程门阵列(FPGA)、复杂数字接口电路、74/54系列、ECL系列器件的直流参数，动态功能参数和交流参数（定时参数）。也可测试运算放大器、比较器、AD/DA、通讯器件等模拟及混合集成电路。
　　被测器件的最大管脚数可达512个，最高测试速率可达100Mhz。